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PLC光器件测试系统、无源器件测试仪、无源器件损耗分析仪

发布日期 :2016-09-19 08:51访问:2次发布IP:116.1.72.213编号:3930484
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桂林大为通信技术有限公司
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详细介绍

PLC多通道光测试系统

系统特点:

u 整机外观美观大方,测试方便,友好的人机界面。

u 当系统与测试器件连接好以后,点击开始测试按钮,系统自动对多路器件扫描测试,无需手动测试。

u 测试结果会自动计算存储到数据库、生成Excel等格式文本。

u 可以事先设置好指标门限阈值,测试完成后直接筛选出低于门限的指标,并生成报表。

u 智能化查询、导出测试结果,操作简单、实用。

u 实现无纸化测试,大大提高了器件的生产、测试效率。

u 具有打印功能,直接打印测试记录、产品标签。

u 使用便捷、高效率、高性价比。

技术指标:

光源波长

1310nm、1490nm、1550nm(或其它可选)

测试模式

单模

测试项目

插入损耗(IL)、偏振相关损耗(PDL)

光功率测试范围

-70~+3dBm

光功率测试准确度

±0.02dB

IL测试准确度

±0.01dB

PDL不确定度

±0.04dB

PDL重复性

±0.01dB

分辨率

0.01dB

测试通道

8通道(可扩展)

光输入输出接口

FC/SC/ST可选

通信接口

RS232

电源

AC220V

综合测试仪(多通道无源器件测试仪,多通道无源器件损耗分析仪)是用来分析多通道

无源光器件的损耗性能,可以准确迅速地得到PLC的损耗。

多通道测试系统采用进口偏振控制器,通过驱动器提供4路直流电压,电压在+5V到-5V范

围内变化,用来动态控制单模光纤产生各种偏振态。无需复位,大于100Hz的响应速度可

以确保偏振控制器能够很好地控制偏振态补偿外部温度、应力的影响。主要用于光器件PMD、PDL测试。

 


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